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首頁(yè) > 產(chǎn)品展廳 > Seica飛針測(cè)試系統(tǒng) > 立式4針 V4
產(chǎn)品編號(hào)：
產(chǎn)品全稱(chēng)：立式4針 V4
Pilot V4 Next 是一款全功能、雙面落針的飛針測(cè)試系統(tǒng)，具有高度的靈活性，因此，可以滿(mǎn)足廣泛的測(cè)試需求：從樣產(chǎn)到小/中等產(chǎn)量的測(cè)試，從維修到反求工程，都可以應(yīng)對(duì)自如。它采用立式布局，每側(cè)各配置2個(gè)移動(dòng)測(cè)針，并附加有2個(gè)腳開(kāi)焊探頭（每側(cè)1個(gè)），2個(gè)CCD彩色攝像頭（每側(cè)1個(gè)）。這樣的配置，使得Pilot4D M4不但可以運(yùn)行真正的在線(xiàn)測(cè)試，而且當(dāng)所有的測(cè)試點(diǎn)不在一側(cè)時(shí)還有能力對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。它具有隔離測(cè)試功能，不論UUT接入電源與否均可以在IC上使用無(wú)矢量測(cè)試技術(shù)。Pilot4D M4落針輕微，使其可以適應(yīng)任何的工作環(huán)境。立式、緊湊機(jī)構(gòu)和優(yōu)異的夾板裝置，確保在電路板的測(cè)試過(guò)程中幾乎無(wú)震顫，同時(shí)，也極大地改善了移動(dòng)測(cè)針在測(cè)試點(diǎn)上的定位精度。
FNODE：UUT上的網(wǎng)絡(luò)信號(hào)分析
標(biāo)準(zhǔn)的模擬和數(shù)字ICT測(cè)試
無(wú)矢量測(cè)試（JSCAN和OPENFIX）,測(cè)試各種IC的開(kāi)路和短路
PWMON用于電路板加電后的網(wǎng)絡(luò)分析
用于檢測(cè)電路板印制線(xiàn)開(kāi)路的導(dǎo)通測(cè)試
自動(dòng)光學(xué)測(cè)試，用于檢查元器件的缺失和反向以及網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)功能
具備配備功能測(cè)試和邊界掃描的接口
所有這些測(cè)試資源都可以合成到一個(gè)單一測(cè)試程序中，而且同樣的程序既可以在飛針測(cè)試系統(tǒng)中運(yùn)行，也可以在外部的針床測(cè)試裝置上使用而無(wú)需做任何的修改，由此，客戶(hù)擁有了最大程度的靈活性，滿(mǎn)足不同測(cè)試量的需求。
VIP平臺(tái)
Pilot4D H4是基于Seica的VIP平臺(tái)，包括創(chuàng)新的VIVA測(cè)試軟件。測(cè)試程序僅需要3個(gè)步驟既可完成：“準(zhǔn)備”、“確認(rèn)”和“測(cè)試”。從軟件開(kāi)始界面起即引導(dǎo)操作者通過(guò)一系列的直觀的、配有自我注釋環(huán)境的自動(dòng)下行操作頁(yè)面進(jìn)行編程，極大地減少了編程時(shí)間，并且將出錯(cuò)降低至最小甚至消失。
對(duì)某些特殊應(yīng)用，可以深度打開(kāi)VIP平臺(tái)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，通過(guò)如RS232、USB接口、GPIB和PXI/XI協(xié)議接口等，將外部軟件和/ 或硬件輕而易舉地與之集成。
